| 型号 | 产品叙述 | RoHS |
|---|---|---|
| Assura Physical Verification | 设计规则检测与版图和逻辑设计一致性检测，为SoC设计提供高良率的定制IP。 | 否 |
| Cadence Chip Optimizer | 使用基于3D空间的方法进行建模、分析并优化版图，使其满足电气约束，制造规则等等。 | 否 |
| Cadence CMP Predictor | 通过基于模型的CMP热点识别与面向CMP的RC抽取，增强设计性能与良率。 | 否 |
| Cadence Litho Electrical Analyzer | 根据真实光刻轮廓线来抽取器件和连线的电气参数。分析并且修复由于系统性变量产生的时序和漏电流热点。 | 否 |
| Cadence Litho Physical Analyzer | 识别并修正光刻图形的热点。使用基于模型的技术快速并且准确地预测芯片的光刻轮廓，改进参数良率和芯片性能。 | 否 |
| Cadence MaskCompose Reticle and Wafer Synthesis Suite | Automates and optimizes reticle and wafer synthesis to eliminate errors and reduce mask-making cycle times. | 否 |
| Cadence Physical Verification System | 在一种解决方案中提供从前端到后端设计，实现并且签收的整个流程。加快设计规则检测和版图与逻辑设计一致性验证的周期。 | 否 |
| Cadence QuickView Layout and Manufacturing Data Viewer | Allows engineers to view and superimpose manufacturing data in various industry-standard formats. | 否 |
| Encounter Diagnostics | Delivers the most accurate volume and precision diagnostics capability available on the market. Accelerates silicon bring-up and optimizes yield ramp with device and fault modeling. | 否 |
| Encounter Digital Implementation System | 无论是针对giga-gate/GHz、低功耗还是混合信号设计，无论是主流工艺节点还是先进工艺节点，都提供一个完整的单一设计平台并支持多CPU的解决方案。 | 否 |
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